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瀏覽器自帶分享功能也很好用哦~本文介紹了PCT試驗(yàn)箱在IC-Auto Clave試驗(yàn)中的作用，這是一種評估集成電路在高溫、高壓和潮濕環(huán)境下可靠性的專業(yè)測試方法。通過模擬惡劣環(huán)境條件，該試驗(yàn)可以加速老化過程，預(yù)測IC的長期穩(wěn)定性。文章還詳細(xì)描述了IC-Auto Clave試驗(yàn)的主要特點(diǎn)、步驟和樣品預(yù)處理方法，強(qiáng)調(diào)了PCT試驗(yàn)箱在確保試驗(yàn)精確性和可靠性方面的重要性。
本文介紹了PCT試驗(yàn)箱在IC-Auto Clave試驗(yàn)中的作用，這是一種評估集成電路在高溫、高壓和潮濕環(huán)境下可靠性的專業(yè)測試方法。通過模擬惡劣環(huán)境條件，該試驗(yàn)可以加速老化過程，預(yù)測IC的長期穩(wěn)定性。文章還詳細(xì)描述了IC-Auto Clave試驗(yàn)的主要特點(diǎn)、步驟和樣品預(yù)處理方法，強(qiáng)調(diào)了PCT試驗(yàn)箱在確保試驗(yàn)精確性和可靠性方面的重要性。
IC-Auto Clave試驗(yàn)的主要特點(diǎn)包括
1.高溫：試驗(yàn)溫度設(shè)定在121°C或更高，以模擬高溫環(huán)境對IC的影響。
2.高壓：試驗(yàn)壓力設(shè)定在2個大氣壓（15 psi）或更高，以模擬高壓環(huán)境對IC的影響。
3.高濕度：由于試驗(yàn)在封閉的PCT試驗(yàn)箱中進(jìn)行，濕度可達(dá)100%相對濕度（Rh），以模擬潮濕環(huán)境對IC的影響。
4.自動控制：現(xiàn)代IC-Auto Clave試驗(yàn)系統(tǒng)通常配備先進(jìn)的控制系統(tǒng)，可自動調(diào)節(jié)溫度、壓力和濕度等參數(shù)，確保試驗(yàn)條件的精確控制。
5.定時試驗(yàn)：試驗(yàn)時間可根據(jù)需要進(jìn)行設(shè)定，通常為24小時或幾天不等，以評估IC在不同時間尺度下的耐久性。
IC-Auto Clave試驗(yàn)的主要步驟如下
在IC-Auto Clave試驗(yàn)中，樣品的預(yù)處理是關(guān)鍵環(huán)節(jié)，具體包括以下步驟(參考)
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